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AF-48B

日期: 2018-07-30 点击次数: 主讲老师:
AF-48B系列设备 是一种适用于tray盘装、卷带、管装IC的专业多 颗取放式自动烧录设备。 系统配备4颗IC取放吸嘴和15组内建烧录/测试单元,皆有优异的控制软体,提供IC烧录/测试、带上打印 以及包装转换的多重功能。 内建的烧录/测试单元 提供高效且稳定的多颗IC并行烧录/测试。系统并提供烧录/测试后芯 片上打点的选择。 多种I/O装置可供架设及更换,让系统有 极大的灵活性和通用性,可依IC包装而设 定所需的进出料方式。 系统一次取放4颗IC,使烧录/测试时间小于100秒的IC能达到约1500UPH的产出效能。主要功能1: AF-48B系列机台 拥有多组精密配置,增加机台 调控性与精准度。该机台可 并排架设两组带装进料装置同时作业,增加生产效能。内部采用 工控机控制系统,保障了机 台运行的稳定度。性能卓越:系统可架 设和操作多种不同的进出料装置,以适应Tray、Tape、Tube等不同包装的IC。同一系统即可兼具IC烧录/测试 、带上打点、镭射功能。 智能型操作:在功能强 大的软体控制下,自动化的 多颗取放系统可进行一连串的IC进料、吸取、定位、摆放、烧录/测试 、分类、标识、出料等一体化作业。 精准的定位:配备一台 定位精准的视觉相机,用于测试座及其他IC取放点和 偏移角度的矫正和定位。 主要功能2:可靠的烧录/测试:内建有高速CPU核心控制线路、弹性化的 脚位驱动线路与快速USB界面架构的烧录/测试单元,提供高速度、低杂讯、精准且稳定的烧录/测试平台。 多颗并行烧录/测试:烧录/测试模组依烧录/测试时间长短,可提供1、2、4、6或12个测试座。系统可同时烧录/测试 多达15 颗 x 4组 = 60颗和8颗x9组=72颗IC,用以消除 或缩短在烧录/测试高容量记忆IC时可能产 生的系统等待时间。 高效的产能:约1500UPH,~9.5秒每4颗IC的放置时间,使烧录/测试时间小于100 秒 的IC烧录/测试作业,达到每小时约1500颗的稳定产能。主要功能3:打点选择:系统提供在IC烧录/测试后的 芯片打点的选择。 容易更换和维护:当更换IC产品时,相对应的烧录/测试模块 和进出料装置能够容易且快速...

AF-48B

AF-48B系列设备 是一种适用于tray盘装、卷带、管装IC的专业多 颗取放式自动烧录设备。


系统配备4IC取放吸嘴和15组内建烧录/测试单元,皆有优异的控制软体,提供IC烧录/测试、带上打印 以及包装转换的多重功能。

内建的烧录/测试单元 提供高效且稳定的多颗IC并行烧录/测试。系统并提供烧录/测试后芯 片上打点的选择。

多种I/O装置可供架设及更换,让系统有 极大的灵活性和通用性,可依IC包装而设 定所需的进出料方式。

系统一次取放4IC,使烧录/测试时间小于100秒的IC能达到约1500UPH的产出效能。

主要功能1

AF-48B系列机台 拥有多组精密配置,增加机台 调控性与精准度。该机台可 并排架设两组带装进料装置同时作业,增加生产效能。内部采用 工控机控制系统,保障了机 台运行的稳定度。
性能卓越:系统可架 设和操作多种不同的进出料装置,以适应TrayTapeTube等不同包装的IC。同一系统即可兼具IC烧录/测试 、带上打点、镭射功能。

智能型操作:在功能强 大的软体控制下,自动化的 多颗取放系统可进行一连串的IC进料、吸取、定位、摆放、烧录/测试 、分类、标识、出料等一体化作业。

精准的定位:配备一台 定位精准的视觉相机,用于测试座及其他IC取放点和 偏移角度的矫正和定位。

主要功能2

可靠的烧录/测试:内建有高速CPU核心控制线路、弹性化的 脚位驱动线路与快速USB界面架构的烧录/测试单元,提供高速度、低杂讯、精准且稳定的烧录/测试平台。

多颗并行烧录/测试:烧录/测试模组依烧录/测试时间长短,可提供124612个测试座。系统可同时烧录/测试 多达15 x 4 = 60颗和8x9=72IC,用以消除 或缩短在烧录/测试高容量记忆IC时可能产 生的系统等待时间。

高效的产能:约1500UPH~9.5秒每4IC的放置时间,使烧录/测试时间小于100 IC烧录/测试作业,达到每小时约1500颗的稳定产能。

主要功能3

打点选择:系统提供在IC烧录/测试后的 芯片打点的选择。

容易更换和维护:当更换IC产品时,相对应的烧录/测试模块 和进出料装置能够容易且快速的更换。开机时的自动诊断、I/O装置检测 功能和模块化的设计使系统维护、检修与更换更为简便。

超强的软体功能:资料设定 与测试结果会自动储存,以备下次 开机作业时使用,并皆以追 踪品质与良率。人性化的 操作界面使生产作业更为容易。

产品规格1

传动系统
X-Y 轴驱动:进口高效 能伺服驱动系统
传动:进口研磨 级丝杆和线性滑轨
分辨率:X axis: ±0.02mm, Y axis: ±0.02mm, Z axis: ±0.02mm
旋转轴分辨率:Θ=0.2°
取放精准度:±0.02mm
视觉系统 
取像装置:Fixed CCD: 659 x 494 pixels.
取像口径:30mm x 30mm
影像精准度:±0.01mm
影像处理速度:~ 0.1 sec / unit

产品规格2

烧录/测试系统
内置烧录/测试装置:  
F-801P 适用于全部eMMCNAND FLASH等大容量芯片烧录
下表为F-801P在烧录各 种芯片时的时间对比:

AF-48B

AF-48B
EMMC烧写速度接近15~20MB/S


F-800U

l 支持芯片种类:EPROME^2PROMSPI FLASHNOR FLASHNAND FLASHMCUCPLDFPGAeMMC

l 支持芯片封装:SOICSOPTSOPPLCCQFPQFNSONBGA

l 支持三种工作模式,联机操作、脱机操作、甚至远程操作控制

l 自动征测IC并烧录,无需任何手动按键,真正的建议操作

l 支持1.2V低电压烧录,完善的过流过压及ESD保护

l 支持ISP在线烧录系统,量产模式,兼容ICT测试站

l 一次可以最多烧录8IC,高效的工程量产模式





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